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原位材料光谱学（透射式XRD）
原位材料光谱学系统是根据实际科研需求所设计和开发的，针对材料在不同温度环境的原位光谱学表征系统。该系统主要由透射式X射线衍射装置及其他原位附件所构成。
透射式X射线衍射装置在该系统中主要负责采集各类材料在不同温度环境条件（不同力学影响条件下）的原位XRD数据，通过分析该类具有时间分辨的原位XRD数据，获取到材料的晶体结构变化信息和相结构变化信息。
产品优势
- 可实现秒级时间分辨
- X光源能量高穿透力强
- 可以匹配各种原位装置
- 可以与其他系统耦合实现自动采集数据
- 可做高压DAC实验
产品参数
X射线源与探测器主要技术参数
- 透射式X射线衍射模式；
- X射线管：2 - 60 kV, 2 - 80 mA, max. 1.6 kW ；
- 配备60kv高压线，3-5m长；
- 配备4个 Be窗口；
- X射线光源靶材：Ag靶能量：>=16kev；
- X射线光斑尺寸：<=0.4*0.4mm；
- 配备二维面探作为X射线衍射信号收集装置；
- 具备秒级时间分辨；
- 适用X射线散射和衍射信号收集功能
测试数据
doi.org/10.1080/10739149.2021.1956948
doi.org/10.1080/10739149.2021.1956948
品牌:
北京中研环科原位表征系统定制
