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原位光谱拉伸装置 SD-IUF-100 | 一机集成，洞悉材料力学-光学性能关联
专为高分子薄膜设计，在精准双向拉伸中，同步完成红外、紫外、荧光光谱的原位测试，一站式揭示材料结构与性能的动态演变规律。
✔ 三光谱兼容 ✔ 100N精准拉伸 ✔ 双向中心稳定 ✔ 开放式可视窗口 ✔ 灵活安装适配
产品概述
PRONOVATION为您带来北京中研环科SD-IUF-100原位光谱拉伸装置。这是一款设计精巧、功能强大的多功能原位测试平台，专为在拉伸条件下研究高分子薄膜等材料的红外、紫外及荧光光谱而设计。
它成功地将精密力学拉伸系统与开放式光学观测结构相结合。通过双向拉伸技术确保观测区域稳定，并凭借其独特的大尺寸开放式窗口设计，可灵活适配多种光谱仪的光路要求，为您同步研究材料的力学行为与光学特性变化提供了前所未有的便利。
核心优势与卖点
- 卓越的多光谱兼容性
- 一机三用：一台装置即可满足红外吸收、紫外可见吸收及荧光发射三种模式的原位测试需求，极大提升科研效率与设备投资回报率。
- 开放式光路设计：前后开有70 x 70mm 的大尺寸窗口，确保透射光路无遮挡，并在45°放置时完美实现荧光90°方向探测。
- 精准的力学与运动控制
- 采用双向拉伸方式，在拉伸过程中能保持样品观测中心基本不变，确保光谱探头始终对准同一区域，获取连续、可靠的数据。
- 拉力调节范围：1-100N，精度高，满足大多数高分子薄膜材料的力学测试需求。
- 位移拉伸量：0.1-20mm可调，可实现材料从弹性到塑性变形的精细研究。
- 人性化与智能化设计
- 分体式结构：由拉伸装置主体和独立控制箱组成，布线清晰，操作安全。
- 灵活的安装方式：装置可通过底座调整样品高度，并能整体以垂直或特定角度放置，轻松适配底部带槽或空间有限的光谱仪。
- 智能程序控制：通过外接电脑软件，实现实时读取拉力数据、按设定模式进行拉伸，实验过程精准可重复。
详细技术参数
| 技术指标 | 详细参数 |
|---|---|
| 产品型号 | SD-IUF-100 |
| 系统组成 | 拉伸装置主体 + 独立控制箱 |
| 整体尺寸 | 约 139mm (L) × 55mm (W) × 171mm (H) |
| 最大拉力 | 1 - 100 N |
| 力值精度 | 约满量程的 ±0.3>#/td### |
| 位移拉伸量 | 0.1 - 20 mm |
| 设计样品长度 | 50 mm |
| 可观测区域 | 34 mm |
| 拉伸方式 | 双向拉伸，保持样品中心稳定 |
| 光学窗口 | 前后开放式，70mm × 70mm |
| 适用光谱 | 红外、紫外、荧光 |
| 样品类型 | 高分子薄膜等 |
| 控制方式 | 外接电脑程序控制，实时数据读取 |
应用场景
- 智能高分子材料：研究刺激响应性凝胶、形状记忆聚合物在拉伸过程中荧光变色或红外特征峰位的演变。
- 光电薄膜材料：表征OLED、太阳能电池薄膜等在应力作用下的紫外吸收光谱与荧光量子效率变化。
- 高分子结构演变：原位观测薄膜在拉伸过程中的分子链取向、结晶行为（红外）与微观断裂过程。
- 功能涂层与复合材料：分析涂层在机械应力下与基底的相互作用及其对光学性能的影响。
PRONOVATION 的服务承诺
- 正品保障：我们确保所有设备均为北京中研环科原厂正品，享有完整的质量保证与售后服务。
- 专业支持：我们的技术团队可为您提供详细的光谱仪适配性咨询，确保设备无缝集成到您的现有系统中。
- 采购便捷：PRONOVATION平台致力于为您提供安全、高效的一站式采购体验，简化供应链管理。
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品牌： 北京中研环科
销售商： PRONOVATION 普诺实验商城
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品牌:
北京中研环科原位表征系统定制
