原位微米CT成像系统

原位微米CT成像系统

 Deep Insight 系列原位微米CT产品是适用于满足低温、高温、拉伸等各种原位条件下的快速高分辨4D原位Micro-CT成像设备。该成像设备可结合光栅、X射线近边吸收谱等成像技术，获得轻元素物质（C、Li、Si、Al等）样品在原位情况下的微纳米分辨三维空间结构和价态变化信息。

      可为材料科学、生命科学以及电子器件等多个领域的样品进行高精度三维成像，提供结构尺寸与物质定量信息，具有十分重要意义和作用。

产品优势

1. 相位衬度成像（领先）
2. 三维成像原位技术集成
3. 原位微米CT测试系统，自动化程度高
4. 核心技术已实现完全自主化
5. 原位系统程序化集成度高，可实现一键式体验

应用领域

了解产品背后的科技

Deep Insight系列具有各类原位探测模块的选配功能：能够满足高温高压、高温催化、低温环境、材料拉伸、电化学反应等多种真实反应条件，适配更广阔的科研、工业应用场景。

DeepInsight 系列技术参数规格详情

产品型号 DeepInsight200 | DeepInsight400 | DeepInsight600

一、成像系统

• 空间分辨率 DeepInsight200：≤ 1.0 µm DeepInsight400：≤ 0.5 µm DeepInsight600：≤ 0.5 µm
• 最小可实现像素尺寸 DeepInsight200：≤ 0.5 µm DeepInsight400：≤ 0.35 µm DeepInsight600：≤ 0.35 µm

二、X射线源配置

• 类型 全系列采用密封透射式X射线源
• 管电压范围 DeepInsight200：40 kV – 150 kV DeepInsight400：40 kV – 160 kV DeepInsight600：40 kV – 230 kV
• 最大输出功率 DeepInsight200：10 W DeepInsight400：25 W DeepInsight600：50 W

三、样品台系统

• 样品台负载能力 DeepInsight200：10 kg DeepInsight400：15 kg DeepInsight600：15 kg
• 样品台行程（X, Y, Z） DeepInsight200：100 mm, 100 mm, 20 mm DeepInsight400：100 mm, 100 mm, 50 mm DeepInsight600：100 mm, 100 mm, 50 mm
• 样品尺寸限制 DeepInsight200：≤ 10 cm DeepInsight400：≤ 3 cm DeepInsight600：≤ 10 cm

四、探测器与扩展功能

• 探测器类型 DeepInsight200：平板探测器 DeepInsight400：2X, 4X, 20X 可选 DeepInsight600：2X, 4X, 20X，平板探测器可选
• 扩展模块支持
  • 原位测试装置：全系列可选配
  • 相对成像模块：全系列可选配

如有特殊配置或定制需求，欢迎联系我们的技术团队获取详细方案与报价。

应用案例